1. Trang Chủ
  2. Vật lý
  3. X-RAY DIFFRACTION

X-RAY DIFFRACTION

Tia X hay quang tuyến X hay X quang hay tia Röntgen là một sóng điện từ có bước sóng trong khoảng 10 nanômét đến 100 picômét (tức là tần số từ 30 PHz đến 3EHz). Tia X có khả năng xuyên qua nhiều vật chất (như cơ thể người) nên thường được dùng trong chụp ảnh y tế, nghiên cứu tinh thể. Tuy nhiên tia X có khả năng gây ion hóa hoặc các phản ứng có thể nguy hiểm cho sức khỏe con người, do đó bước sóng, cường độ và thời gian chụp ảnh y tế luôn... TRƯỜNG ĐẠI HỌC CẦN THƠ KHOA KHOA HỌC GVDH: Ths - Nguyễ

Thể loại Tài liệu miễn phí Vật lý

Số trang 34

Ngày tạo 8/29/2018 7:54:38 PM +00:00

Loại tệp PPT

Kích thước

Tên tệp

Tải X-RAY DIFFRACTION (.pptx) Tải X-RAY DIFFRACTION (.pdf)

Xem mẫu

  1. TRƯỜNG ĐẠI HỌC CẦN THƠ KHOA KHOA HỌC GVDH: Ths - Nguyễn Thị Diệp Chi SVTH: 1. Võ Văn Quốc 2082233 2. Lê Nguyên Khang 2082179 3. Nguyễn Lê Linh 2082226 4. Trương Thanh Tài 2082792 5. Nguyễn Hoàng Duy 2092123
  2. Báo Cáo Các Phương Pháp Phân Tích Hiện Đại Đề Tài: X-RAY DIFFRACTION
  3. Giới thiệu 1 Cơ sở của nhiễu xạ tia X 2 Máy phân tích phổ XRD. 3 4 Đặc trưng phổ XRD của một số vật liệu.
  4. X-RAY DIFFRACTION Giới thiệu về tia X • Năm 1895 Rơntghen tình cờ phát hiện ra tia X. • Năm 1901 Ông đạt giải Nobel. 1845 – 1923
  5. Tia X Hình chụp xương bàn tay của bà Röngent 22/12/1895 đến 10 − m • Tia X có bước sóng trong khoảng: 10 −11 m 8
  6. Tia X • Tính chất: Khả năng xuyên thấu lớn.  Gây ra hiện tượng phát quang ở một số chất.  Làm đen phim ảnh, kính ảnh.  Ion hóa các chất khí.  Tác dụng mạnh lên cơ thể sống, gây hại cho sức khỏe.
  7. Tia X Sự phát sinh tia Röngent
  8. Tia X
  9. Huỳnh quang tia X Nhiễu xạ tia X Xác định hàm lượng nguyên tố có Phân tích cấu trúc rắn, vật liệu… trong mẫu
  10. Phân tích cấu trúc tinh thể bằng nhiễu xạ tia X • Max von Laue: quan sat và ́ giai thich hiên tượng nhiêu ̉ ́ ̣ ̃ Max von Laue xạ tia X trên tinh thể vao ̀ ̣ ̉ năm 1912. Ông nhân giai Nobel năm 1914 cho công trình này. • W.H.Bragg và W.L.Bragg: ̣ ̉ nhân giai Nobel năm 1915 cho sự đóng góp của họ trong việc phân tích cấu W.L.Bragg là người trẻ trúc tinh thể bằng tia X. ́ ̣ ̉ nhât đat giai Nobel (năm ̉ 25 tuôi)
  11. 2. Cơ sở của nhiễu xạ tia X Hiện tượng nhiễu xạ tia X: - Nhiễu xạ là đặc tính chung của các sóng bị thay đổi khi tương tác với vật chất và là sự giao thoa tăng cường của nhiều hơn một sóng tán xạ. - Mỗi photon có năng lượng E tỷ lệ với tần số của hc nó: E = h ∗ υ λ= E Trong đó: h - hằng số Plank, h = 4,136. 10-15 e5.s hay 6,626.10-34 J.s. c – tốc độ ánh sáng c = 2,998. 108 m/s.
  12. 2. Cơ sở của nhiễu xạ tia X
  13. 2. Cơ sở của nhiễu xạ tia X Thiết bị thí nghiệm nhiễu xạ của Laue và cộng sự
  14. 2. Cơ sở của nhiễu xạ tia X Định luật Vulf-Bragg Định luật Vulf-Bragg được đưa ra năm 1913 thể hiện mối quan hệ giữa bước sóng tia X và khoảng cách giữa các mặt phẳng nguyên tử.
  15. 2. Cơ sở của nhiễu xạ tia X Nhiễu xạ tia X bởi các mặt phẳng của nguyên tử (A-A’ - B-B’). nλ = 2d hkl sinθ Phương trình Bragg có dạng sau: λ = 2 ( d hkl / n ) sinθ n>1
  16. 3. Máy phân tích XRD và các phương pháp ghi phổ XRD
  17. 3. Máy phân tích XRD và các phương pháp ghi phổ XRD
  18. 3. Máy phân tích XRD và các phương pháp ghi phổ XRD  Cấu tạo: - Ống phát tia X: gồm anot và catot - Tấm lọc tia Kβ. Giá để mẫu. - Detector: + Detector nhấp nháy(*) + Gas-filled proportional counters + CCD area detectors + Image plate + X-ray film
  19. GIÁ ĐỂ MẪU
  20. Detector nhấp nháy • Detector thông dụng nhất trong việc phân tích vật liệu bởi nhiễu xạ tia X • Detector có 2 thành phần cơ bản – Tinh thể phát ra ánh sáng thấy (scintillates) khi tương tác với tia X – Ống nhân Quang (PMT): chuyển ánh sáng thành tín hiệu điện. gain ~5× per dynode (total NaI(Tl) scintillator gain with ten (very sensitive to dynodes is moisture) – emits 5 ≈ 10 ) around 4200Å CsSb photocathode – ejects electrons
nguon tai.lieu . vn
Toán học Môi trường Vật lý Sinh học Địa Lý Hoá học Nông - Lâm - Ngư Cơ khí - Chế tạo máy Tiếng Anh phổ thông Khoa học ứng dụng Nông - Lâm Kiến thức tổng hợp Giáo dục học Xã hội học