1. Trang Chủ
  2. Toán học
  3. Bài giảng 6sigma: Phân tích năng lực quá trình

Bài giảng 6sigma: Phân tích năng lực quá trình

Sau khi học xong Bài giảng 6sigma: Phân tích năng lực quá trình sẽ giúp bạn hiểu được khái niệm về năng lực quá trình Hiểu được metric đối với năng lực quá trình 6 Sigma; quyết định phương pháp phân tích phù hợp theo loại dữ liệu. Nghiên cứu cách thức tính toán năng lực quá trình sử dụng Minitab. Mời các bạn tham khảo! Phân tí ch năng lực quá trì nh  Phân tích năng lực quá trình cho dữ liêu liên ̣ tuc̣  Phân tích năng lực quá trình cho dữ liêu r ̣ ời rac̣  Muc tiêu hoc tâp ̣ ̣

Thể loại Tài liệu miễn phí Toán học

Số trang 47

Ngày tạo 4/4/2023 9:14:28 PM +00:00

Loại tệp PPT

Kích thước 0.91 M

Tên tệp

Tải Bài giảng 6sigma: Phân tích năng lực quá trình (.pdf)

Xem mẫu

  1. Phân tí ch năng lực quá  trì nh  Phân tích năng lực quá trình cho dữ liêu liên  ̣ tuc̣  Phân tích năng lực quá trình cho dữ liêu r ̣ ời  rac̣  Muc tiêu hoc tâp ̣ ̣ ̣  Hiểu được khái niệm về năng lực quá trình  Hiểu được metric đối với năng lực quá trình 6 Sigma  Quyết định phương pháp phân tích phù hợp theo loại dữ liệu  Nghiên cứu cách thức tính toán năng lực quá trình sử dụng Minitab
  2. Năng lực quá trì nh là  gì ?  Đinh nghi ̣ ̃ a năng lực quá trì nh là  gì    Là năng lực vốn có của một quá trình nhằm tạo ra sản phẩm hoặc dịch vụ không  lỗi đáp ứng yêu cầu khách hàng.  Muc đi ̣ ́ ch cua viêc phân ti ̉ ̣ ́ ch năng lực qui trì nh (PCA)  PCA xác nhận các thức mà quá trình thoả mãn được các tiêu chuẩn thực hiện.  PCA trong giai đoạn Đo lường sẽ định lượng hiệu suất cơ sở của Y trong đề tài  và    cho phép chúng ta quyết đinh được cấp độ hiện tại của quá trình. Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 2 Rev  7.0
  3. Tổng quan về phân tích năng lực quá trình  Phương pháp phân tích năng lực quá trình  Phương pháp PCA có thể được phân loại thành loại liên tục và loại rời rac tu ̣ ỳ  theo loại dữ liệu.  Tiền đề cho việc phân tích năng lực quá trình      (Giả thuyết thống kê)  Dữ liệu có nguồn gốc từ quá trình ổn định  Trạng quá trình có thể dự báo được thông qua dữ liệu (không có nguyên nhân bất  thường). Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 3 Rev  7.0
  4. Đo lường  Loai d ̣ ữ  liêu ̣ Dữ  liêu v ̣ ề lỗ i Dữ  liêu r ̣ ờ i rac̣ Dữ  liêu v ̣ ề sai hỏng Loai d ̣ ữ  liêu ̣ Dữ  liêu liên tuc ̣ ̣  Loai d ̣ ữ  liêu co ̣ ́  thê thay đô ̉ ̃ i tù y theo vi tri ̣ ́  quan sá t          Ví  du)  ̣ Thử nghiêm đô sa ̣ ̣ ́ng cua ma ̉ ̀n hình Monitor   ①  Quan điểm “dữ liệu về sai hỏng lỗ i” Thậm chí dù một vùng có không đạt chỉ tiêu kỹ thuật về  độ sáng thì nó cũng được xem là sai và cần được kiểm tra.  Số lỗi sai:1) . ②  Quan điểm “dữ liệu về lỗi” Tính số vùng không đạt chỉ tiêu kỹ thuật về độ sáng (số  lỗi: 2) Phân chia màn hình thành 9  450 430 420 vùng và thử nghiệm mỗi    ③  Quan điểm “dữ liệu liên tục” 200 450 230 vùng có đạt chỉ tiêu kỹ thuật  So sánh việc đo độ sáng với mục tiêu của  440 420 410 về độ sáng hay không. độ sáng. (Chỉ tiêu kỹ thuật: 300 candela) Nếu có thể, Mong muốn được sử dụng dữ liệu liên tục cho mục đích kiểm soát! Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 4 Rev  7.0
  5.   DPU/DPO/DPMO  Đơn vi ̣: Tiêu chuân cho viêc ti ̉ ̣ ́ nh toá n san phâm/quá tri ̉ ̉ ̀ nh đã  được đo  lườ ng                                Cơ hôi ̣ : Tấ t ca cả ́ c đố i tượng (hang muc) cua s ̣ ̣ ̉ ự kiêm tra/th ̉ ử nghiêm  ̣ mà  có  kha năng xay ra lô ̉ ̉ ̃i DPU DPO DPMO   ̉ ̉  Lỗi trên san phâm  Lỗi trên cơ hôi xay ra lô ̣ ̉ ̃i  ̣ ơ hôi xay ra   Lỗi trên 1 triêu c ̣ ̉ lỗi : Số  lỗ i trên 1 san phâm ̉ ̉ : Số  lỗ i trên cơ hôi xay ra lô ̣ ̉ ̃ i  :Số  lỗ i trên 1 triêu c ̣ ơ hôi  ̣ xay ra lô ̉ ̃i Defects Defects Defects x1,000,000 Unit Opportunity Opportunities Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 5 Rev  7.0
  6.  DPU: 1  DPU: 2  DPU: 4  DPO: 1/8  DPO: 1/4  DPO: ?  DPMO: 125,000  DPMO: 250,000  DPMO: ? Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 6 Rev  7.0
  7.  Hiệu suất (Yield)      Hiệu suất là một khái niệm về phần trăm số sản phẩm tốt. Nó biêu thi  ̉ ̣ ̣ ̉ cho viêc quan ly ́ sai hỏng bao gồm ca la ̉ ̀m lai hoăc huy bo vât t ̣ ̣ ̉ ̉ ̣ ư trong mỗi  bước cua quá tri ̉ ̀nh v.v…  Cá c loai hi ̣ ệu suất  FTY (First Time Yield):     Được dùng đê xa ̣ cấ p đô châ ̉ ́c đinh  ̣ ́ t lượng cua t ̉ ừng quá trì nh riêng lẻ.  Được áp dung va ̣ ̣ ửa chữa.   ̀o quá trình mà không có làm lai/s  RTY (Rolled Throughput Yield):   Được sử dụng đê th ̉ ể hiện cấp độ chất lượng của toàn bộ quá trình. ̉ ư là một bình phương của FTY  Được diễn ta nh  YNOR (Normalized Yield):   Được sử dụng đê th ̉ ể hiện cấp độ chất lượng của toàn bộ quá trình.   Áp dụng khái niệm hì nh hoc trung bi ̣ ̀ nh (TB nhân­mean) đối với FTY của quá  trình. Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 7 Rev  7.0
  8.  Tí nh toá n RTY  Nếu dữ liêu đ ̣ ưa ra là % lỗi hoăc san l ̣ ̉ ượng  m RTY FTYi i 1 * Ở đây, FTYi là FTY cua mô ̉ ̃i qui trình   Nếu dữ liêu đ ̣ ưa ra là số lỗi  DPU RTY e DPU e *               refers to P[X = 0] (xác suất không có lỗi) trong phân bố  Poisson Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 8 Rev  7.0
  9. 95.5% Yield 45,000 ppm wasted N Nhh aà̀  97% Yield  m maa ́́yy   nngg âầ̀m m bboo ::  LLaà 94.4% Yield ̉̉ ̀mm  l laạịi/ /  hhu 30,000 ppm wasted ủỷy    RTY = 0.955*0.97*0.944 = 87.4% 56,000 ppm wasted RTY chú  trong va ̣ ̀ o năng lực không nhữ ng ở  bướ c cuố i cù ng mà  cò n ca trong mô ̉ ̃ i bướ c  cua quá tri ̉ ̀ nh. Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 9 Rev  7.0
  10. ̉ ượng cua d   Tính toán san l ̉ ữ liêu lô ̣ ̃i  nếu loại dữ liệu là số lượng lỗi sai trên mỗi sản phẩm bị lỗi thì chúng ta có  thể sử dụng phương pháp phân bố Poisson để tính khả năng được quyết đinh  ̣ là tốt của sản phẩm (đó là yield)  1 1 2  Unit: 50 ̉  Tông sô ́ lỗi : 20 1 1 2  DPU: 20/50 = 0.40 2 1 1  Yield  = e­DPU            = e­0.40 1 1 2            = 0.670 3 1            = 67% Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 10 Rev  7.0
  11. ̣ ́nh RTY Ví du) Ti ̣ Ví du 1) K ết quả của việc nghiên cứu lỗi của màn hình LCD trên một dây truyền  sản xuất là 1  lỗi được phát hiện trong tổng số 346 chiếc được sản xuất. RTY  của đặc tính này là gì?        Answer) DPU =                        RTY =  ̣ Ví du 2)  Một dây truyền sản xuất gồm 3 quy trình.  Nếu FTY của mỗi quy trình là 98%, thì RTY của cả dây truyền là gì?         Answer) 0.98 0.98 0.98                   RTY  =   Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 11 Rev  7.0
  12. Chi sô ̉ ́  năng lực quá trì nh Trong 6 Sigma, mứ c Sigma được sử dung nh ̣ ư là  môt th ̣ ướ c đo biêu  ̉ thị năng lực quá trì nh  Khá i niêm m ̣ ứ c Sigma dướ i dang năng l ̣ ực quá  trì nh ̣ ước đo biêu thi  Môt th ̉ ̣ có  bao nhiêu đô lêch chuân gi ̣ ̣ ̉ ữ a trung tâm cua  ̉ quá trì nh và  giớ i han chuân ̣ ̉  khi dữ liêu tuân theo phân bô ̣ ươ ́ thSL = USL ̀ng. SL = USL          LSL          LSL SL μ Z = σ ZST 0 LSL USL Mứ c Sigma: Có bao nhiêu đô lêch chuân gi ̣ ̣ ̉ ữa trung  ̉ ̉ tâm cua tiêu chuân và  USL or LSL?  Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 12 Rev  7.0
  13. Tổng số 60 công nhân làm việc ở bô phân san xuâ ̣ ̣ ̉ ́t. Chỉ ra tỷ lệ số công nhân đi  làm đúng giờ khi công việc bắt đầu lúc 8 giờ sáng và dữ liệu về việc đến đúng giờ  tuân theo việc phân bố thông thường. Giờ trung bình lúc đến là 7:45 sáng và độ  lệch chuẩn là 10 phút USL USL 10 1 7:45 8:00 0 1.5 8:00 7:45 Z = = 1.5 10 Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 13 Rev  7.0
  14.  6 Sigma cua quá tri ̉ ̀ nh tĩ nh ̣  Số liêu đo được kha năng cua môt quá tri ̉ ̉ ̣ ̣ ̀nh tao ra những san phâm co ̉ ̉ ́  chất lượng đồng đều.  Trong một quá trình với cấp độ 6 Sigma, khi mà giá trị trung bình bằng với  tâm điểm giới hạn thì chỉ 2 lỗi có thể xảy ra trong 1 ti c ̉ ơ hội lỗi. 1ppb 1ppb 6  ST ̉ ̉ Tâm cua tiêu chuân. LSL USL Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 14 Rev  7.0
  15.  Độ dịch chuyển trong quy trình (Z­Shift) g n Quá trình có những  (X ij X j )2 =SSW j 1 i 1 đặc tính động, do đó  giá trị trung bình dịch  chuyển vượt quá thời  gian Time 1 Time 2 Time 3 Time 4 g n SST= ( X ij X )2 g j 1 i 1 n (X j X )2 =SSB j 1 LSL Nominal USL Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 15 Rev  7.0
  16.  Phân tí ch sự biến thiên quá trì nh SS T SS B SS W   g n g g n 2 ( X ij X) n (X j X) 2 (X ij X j )2 j 1 i 1 j 1 j 1 i 1 Tông ̉̉ Tông = Gi Giưữ̃aa + Bên trong Bên trong Tông bi ̉ ̉ Tông biếến thiên n thiên Dich chuyên trong qui tri ̣ ̣ ̉ ̉ Dich chuyên trong qui trì nh ̀ nh Bi Biếến thiên trong nho n thiên trong nhó m ́m (Z – Shift) (Z – Shift) Kinh nghiệm chỉ ra rằng, nhìn chung, theo thời gian, giá trị trung  bình của quy trình dịch chuyển tối đa là  1.5σ. Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 16 Rev  7.0
  17.  Mứ c 6 Sigma khi xem xé t đô lêch quá tri ̣ ̣ ̀ nh  § Khi tính toán % lỗi sai tương ứng với cấp độ Sigma xem xét về sự dịch  chuyển trong quy trình, thì giả thiết rằng giá trị trung bình của quy trình dịch  chuyển 1.5 lần độ lệch chuẩn so với tâm điểm của giới hạn cho phép. Do đó, quy trình với cấp độ 6 Sigma có 3.4 lỗi trong 1 triệu cơ hội, điều đó  tương đương với 3.4 DPMO 3.4DPMO 1.5  ST 4.5  ST Tâm tiêu chuân̉ LSL USL Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 17 Rev  7.0
  18.  Cá c loai dao đ ̣ ộng biến thiên quá  trì nh Sự biến thiên (phân tán) xảy ra khi quá trình không luôn cho ra cùng kết quả  chính xác trong việc cung cấp dịch vụ hoặc sản phẩm.  Các loại biến thiên  Loại Định nghĩa Tự nhiên : Biến thiên mong đợi cua quá tri ̉ ̣ ̉ ̀nh cu thê. Nguyên nhân    ngẫu nhiên Ngẫu nhiên: Biến thiên môt ca ̣ ́ch ngẫu nhiên xay ra trong qui  ̉ trình theo thời gian. Yêu cầu thay đổi hệ thống để cải tiến Bất thường: Biến thiên không mong đợi cua quá tri ̉ ̣ ̉ ̀nh cu thê.  Nguyên nhân có  Rời rac: Bi ̣ ến thiên xay ra tai t ̉ ̣ ừng vi tri ̣ ́ riêng biêt theo th ̣ ời  thê ̉ ấn định được gian. ̣ ̉ ến thiên xay ra d Cu thê: Bi ̉ ưới từng trường hợp cu thê. ̣ ̉ Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 18 Rev  7.0
  19.  Năng lực quá trì nh dà i han vs. ngă ̣ ́ n han ̣ Năng l Năng lựực quá tri c quá trì nh ngă ̀ nh ngắ ́n han ̣ ̣  (Z  (ZSTST) ) Năng l n han Năng lựực quá tri c quá trì nh da ̀ nh dà i han (Z ̣ ̣ LT) ) ̀ i han (Z LT  Năng lực quá trình trong ngắn han  mà  ̣  Năng lực quy trình dài hạn là trong đó  không có tác động của yếu tố bên ngoài  nguyên nhân chung của 1 quy trình ( nguyên  (chẳng hạn như nhiệt độ, người thực  nhân ngẫu nhiên) và độ biến thiên gây ra sự  hiện, nguyên liệu thô, LOT…) và chỉ có  dịch chuyển giá trị trung bình của quá trình   biến thiên từ việc tồn tại các nguyên nhân  do các tác nhân bên ngoài (nguyên nhân  ngẫu nhiên không ngẫu nhiên) cùng song song tồn tại. ̣  Xác đinh vê ̣ ̀ măt ky ̣ ̃ thuât   Được xác đinh trong ky ̣ ̣ ̀ kiêm  ̃ thuât va ̉  Năng lực quá trình tiềm năng soát quá trình.   Có  thê ̉ ướ c tí nh được dựa trên viêc  ̣  Năng lực quá trình thực sự. phân nhó m. ZST = Kỹ  thuâṭ ZLT =  Kỹ  thuât + ̣ Kiêm soa ̉ ́ t qui trì nh Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 19 Rev  7.0
  20.  Phân nhó m hợp lý Demonstation of Rational Subgroups Shift is the Grouping Variable 3.5 Output 2.5 Phân nhó m hợp lý 1.5 Hour 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 1112131415161718192021 22230 1 2 3 4 5 6 7  Thế nào là phân nhóm hợp lý? Một nhóm con được tạo thành theo nguyên tắc phân nhóm.   Chỉ những nguyên nhân ngẫu nhiên tồn tại trong phân nhóm hợp lý, và vì vậy  việc phân nhóm hợp lý cho phép bạn nhận biết khả năng vốn có của quy trình  (năng lực quy trình ngắn hạn).  Nguyên tắc phân nhóm (hợp lý) Để tạo ra sự biến thiên trong phân nhóm nhỏ đến mức có thể, trong khi biến  thiên giữa các phân nhóm thì lại càng lớn càng tốt. Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 20 Rev  7.0
nguon tai.lieu . vn
Toán học Môi trường Vật lý Sinh học Địa Lý Hoá học Nông - Lâm - Ngư Cơ khí - Chế tạo máy Tiếng Anh phổ thông Khoa học ứng dụng Nông - Lâm Kiến thức tổng hợp Giáo dục học Xã hội học