Xem mẫu
- Phân tích Hệ thống Đo
lường (MSA)
MSA cho dữ liệu liên tục
MSA cho dữ liệu rời rạc
Các mục tiêu học tập
● Hiểu được lỗi đo lường
● Hiểu được MSA cho dữ liệu biến thiên
● Hiểu được MSA cho dữ liệu rời rạc
- Phân tích Hệ thống Đo lường
Định nghĩa Phân tích Hệ thống Đo lường
MSA (Phân tích Hệ thống Đo lường)
Đánh giá hay thẩm định hệ thống đo lường để đảm bảo sự tin cậy của dữ
liệu.
Trước khi thu thập dữ liệu để xác định năng lực hiện tại (ví dụ đường cơ
sở) của quá trình cần được cải tiến, chúng ta cần khảng định dữ liệu được
thu thập có tin cậy hay không.
Thuật ngữ
Đo lường
Chỉ định các giá trị bằng số cho vật liệu cũng như thể hiện các thuộc tính chắc
chắn của vật liệu.
Eisenhart, C.(1963)
Hệ thống đo lường
Khái niệm bao quát bao gồm tất cả các hệ thống thường dùng để lấy được giá
trị đo, như là dụng cụ hay phương pháp đo, thiết bị khác, phần mềm, môi
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 2 Rev 7.0E
- Tổng quan về Hệ thống Đo lường
Sự cần thiết cho MSA (Phân tích Hệ thống Đo lường)
Trọng lượng
của hòn đá này
là gì?
Bởi vì các hoạt động cải tiến được đưa ra qua
sử dụng dữ liệu, phân tích thực sự có ý nghĩa,
hay là sự cải tiến không thể xảy ra, nếu dự liệu
8Kg 10Kg 7Kg
là không tin cậy.
Do đó, Dữ liệu cơ bản để ra quyết định chính là
dữ liệu đo.
Sự đo lường đúng trở Do vậy, đánh giá hệ thống đo lường là điều cơ
thành dữ liệu cơ sở cho bản nhất và quan trọng nhất trong các hoạt
ra quyết định đúng. động cải tiến, cũng như nó là cần thiết để hiểu
biết hệ thống đo lường, tạo ra dữa liệu, cơ sở
để ra quyết định.
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 3 Rev 7.0E
- Các ví dụ về phân tích hệ thống đo lường
Trong các ví dụ dưới đây, hệ thống đo lường là gì, và phân tích hệ thống
đo lường nên được thực hiện thế nào?
Ví dụ 1
Công ty A muốn tăng sự tận dụng của khách hàng với thông tin trong
Homepage.
Để đạt mục đích, họ thi hành một dự án, bằng cách đặt sự tận dụng của
khách hàng về hê thống IT như là Y.
Ví dụ 2
Trong công ty B, Sự không hài lòng của R&D với sự hoạch định và chiến lược
sản phẩm được biết là ở mức Cao. Do đó, Quản lý Hồng trong phòng chiến
lược thực hiện một dự án để nâng cao sự hài lòng về sự hoạch định & chiến
lược sản phẩm.
Ví dụ 3
Nhà hàng C, Chuyên về giao đồ ăn, muốn tăng doanh số bánh hàng ngày. Để
đạt được điều này, Họ thực hiện một dự án giảm thời gian Lead time giao
đồ ăn, đây là thời gian được tính từ lúc đặt hàng tới lúc giao hàng.
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 4 Rev 7.0E
-
Y : Tận dụng hệ thống IT (thời gian sử dụng)
Họ chỉ kết nối tới homepage thông qua internet,
Nhưng không sử dụng hệ thống.
Dữ liệu đo được : 5% sai
hỏng Tôi không thể chỉ ra sự sử dụng thông tin thực tế
bằng việc đo thời gian kết nối tới home page
(Phần lớn mọi người sử dụng
Dữ liệu thực
tế hệ thống nhiều hơn 9 giờ mỗi
: 100% sai tuần) LSL
hỏng
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 Hrs
Very dissatisfied ← → Very satisfied
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 5 Rev 7.0E
-
Y : Sự không hài lòng về sự hoạch định và chiến lược sản
phẩm
Hóa ra mọi người trả lời có
lợi hơn, bởi vì họ nói rằng
Dữ liệu đo được
‘chúng ta đang thu thập dữ
: 8% sai hỏng
liệu về sự không hài lòng”
USL
Dữ liệu thực tế Thứ tự đo được về sự
: 74% sai hỏng không hài lòng là rất
thấp, nó tương phản
với lời đồn đó là rất
cao.
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Rất không hài lòng ← → Rất hài lòng
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 6 Rev 7.0E
-
Y : Thời gian L/T của giao hàng (Từ lúc đặt hàng tới lúc giao hàng)
Bạn đã nhận đơn hàng và
giao hàng vào lúc mấy giờ?
Tôi nhận đơn hàng lúc
2:30 và giao lúc 2h45.
Thời gian mất 15 phút.
Thưa quý khách, tôi có thể
xin thời gian đặt hàng và thời
gian bạn nhận được đồ ăn Vâng.
của bạn không? tôi dặt hàng lúc 2:25 và
nhận đồ ăn vào lúc 2:50.
Hmm.. Báo cáo của thư ký về giao
hàng không chính xác. Để giảm lead
time giao hàng, tôi cần kiểm tra trước
tiên là về L/T giao hàng đã đo được
chính xác như thế nào.
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 7 Rev 7.0E
- Phân tích Hệ thống Đo lường dữ liệu liên tục
Các kiểu biến thiên của dữ liệu liên tục
Biếến thiên quá quá trình đ
Bi n thiên quá quá trình đượ
ược quan sát
c quan sát
Biếến thiên c
Bi n thiên củủa đo
a đo
Biếến thiên quá trình th
Bi n thiên quá trình thựực t
c tếế llườ
ường
ng
Biếến thiên quá
Bi n thiên quá Biếến thiên quá
Bi n thiên quá Biếến thiên gi
Bi n thiên giữữa a Biếến thiên trong
Bi n thiên trong
trình trong dài
trình trong dài trình trong ngắắn n
trình trong ng các hệệ th
các h thốống đo
ng đo hhệệ th
thốống đo
ng đo
hhạạnn hhạạnn llườ ng
ường llườ ng
ường
Precision Khảả năng tái sinh
Kh năng tái sinh Khảả năng l
Kh năng lặặp l
p lạạii
Bias
Bias
(Độộ l lệệch)
(Đ ch)
Về cơ bản, hệ thống đo
lường phải có năng lực Linearity
Linearity
Accuracy (Đ ộ tuyếến tính)
(Độ tuy n tính)
phân biệt.
Stability
Stability
(Độộ ổ
(Đ n địịnh)
ổn đ nh)
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 8 Rev 7.0E
- Các loại lỗi của Hệ thống Đo lường
Lỗi của đo lường = Accuracy (hướng tâm) + Precision (Biến
thiên)
Accuracy
Chỉ ra giá trị đo gần với giá trị thực như thế nào (khía cạnh trung bình)
Phân tích hiệu chuẩn được yêu cầu → Tần suất, phTrue ương pháp, và quy trình hiệu
Measuremen
chuẩn Bias value t value
total product MS
?? ???
Precision
Chỉ ra sự khác biệt giữa các giá trị đo được (Khía cạnh biến thiên)
Variatio Measurement
Phân tích Gage R&R được yêu cầu → cải tiến dụng c ụ
True , c ải ti ến và chuẩ n hóa
value
n
phương pháp đo.
2 2 2
value
total product MS
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 9 Rev 7.0E
- Accuracy & Precision
Precision
Low Accuracy High Accuracy
High Precision High Precision
Low Accuracy High Accuracy
Low Precision Low Precision
Accuracy
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 10 Rev 7.0E
- Nguyên nhân của sự biến thiên Accuracy
Bias (độ lệch)
Sự khác biệt giữa giá trị trung bình của tất cả các giá trị đo và giá trị tham khảo.
Accuracy tốt hơn, nhận được với bias nhỏ hơn.
m total = mproduct
total product + mMS
MS
Reference Observed
value Average
Bias
0.75 0.80
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 11 Rev 7.0E
- Stability (Độ ổn định)
Tổng biến thiên sinh ra từ các giá trị đo, khi mẫu tham khảo giống nhau hay
đặc tính nhất định của cùng một mẫu, được đo trong một giai đoạn dài.
total product MS
Stability
Time 1 Time 2
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 12 Rev 7.0E
- Linearity (độ tuyến tính)
Sự khác biệt trong các giá trị bias trong toàn bộ phạm vi đo. Độ tuyến tính được
gọi là tốt khi Bias là hằng số trong tất cả phạm vi đo của dụng cụ.
Observed value
Good linearity No bias
Bias
Bad linearity
True Value
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 13 Rev 7.0E
- Các nguyên nhân của biến thiên Precision
Khả năng lặp lại (Repeatability)
Sự biến thiên trong các giá trị đo được, khi một người đo cùng một đặc tính của
cùng một sản phẩm sử dụng cùng một dụng cụ nhiều lần.
Reference Reference
value value
Average Average
Good repeatability Bad
repeatability
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 14 Rev 7.0E
- Khả năng tái sinh (Reproducibility)
Biến thiên trong các giá trị đo được khi hệ thống đo lường khác nhau được sử
dụng để đo cùng một đặc tính của cùng một mẫu.
Khi cùng một đặc tính của cùng một mẫu được đo bởi các người đo khác
nhau, sử dụng cùng dụng cụ đo.
Khi cùng đặc tính sản phẩm của cùng một mẫu được đo bởi cùng người đo
với dụng cụ khác nhau.
Operator C
Gage C
Operator B
Gage B Reproducibity
Operator A
Gage A
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 15 Rev 7.0E
- Năng lực phân biệt (Khả năng phân biệt)
Khả năng hệ thống đo lường phát hiện và hiển thị thay đổi nhỏ nhất trong
các đặc tính đang được đo. Nó cúng được đề cập như là độ phân giải.
HTĐL với năng lực phân biệt kém sẽ không phù hợp để dùng xác định sự
biến thiên quá quá trình.
Đơn vị nhỏ nhất của phép đo nên có khả năng đo với cấp chính xác/phân
biệt nhỏ hơn 1/10 phạm vi kỹ thuật hay khoảng biến thiên của quá trình.
Phân biệt kém
Phân biệt tốt
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 16 Rev 7.0E
- Quy trình Phân tích Hệ thống Đo lường cho dữ liệu liên
tụ c
Bước 1 Xem xét cơ sở dữ liệu cho đo lường
Bước 1 Xem xét cơ sở dữ liệu cho đo lường
Khảng định chủ đề phân tích (X, Y)
Khảng định định nghĩa vận hành
Khảng định kiểu dữ liệu, tiêu chuẩn…
BBướ
ước 2
c 2 Xem xét năng lựực phân bi
Xem xét năng l c phân biệệtt
Xem xét Bias
Xem xét Bias
BBướ
ước 3
c 3 Xem xét Accuracy (khác biệệt v
Xem xét Accuracy (khác bi t vớới giá tr
i giá trịị th
thựực)
c)
Xem xét Linearity
Xem xét Linearity
Xem xét Repeatability
Xem xét Repeatability
BBướ
ước 4
c 4 Xem xét precision (Biếến thiên qua nhi
Xem xét precision (Bi n thiên qua nhiềều giá tr
u giá trịị đo)
đo)
Xem xét Reproducibility
Xem xét Reproducibility
BBướ
ước 5
c 5 Xem xét độộ ổổn đ
Xem xét đ n địịnh (S
nh (Sựự bi
biếến thiên theo th
n thiên theo thờời gian)
i gian)
BBướ
ước 6
c 6 Xem xét quá trình phân tích và rút ra kếết lu
Xem xét quá trình phân tích và rút ra k t luậậnn
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 17 Rev 7.0E
- Ví dụ
Chúng tôi thực hiện 01 dự án để cải Access
No Access Date Person Time
tiến ‘Thời gian truy cập MIS’. (unit: min)
1 2010. 11. 1 KD Hong K 20
‘Thời gian truy cập MIS’ là thời gian
2 2010. 11. 1 KD Hong K 17
tiêu tốn để truy cập HT Management
3 2010. 11. 2 SS Lee C 35
Information System và thông tin điều
4 2010. 11. 3 SS Lee K 22
tra, theo yêu cầu từ team leader và
5 2010. 11. 4 KD Hong K 14
phòng liên quan. Thời gian truy cập
6 2010. 11. 5 SS Lee K 7
được khảng định từ hệ thống máy
7 2010. 11. 5 KD Hong K 30
tính, ghi nhớ lại nó một cách tự
động. 8 2010. 11. 6 KD Hong 42
9 2010. 11. 7 SS Lee K 43
10 2010. 11. 8 KD Hong K 17
… … … …
50 2010. 11. 31 KD Hong K 23
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 18 Rev 7.0E
- Bước 1 Xem xét các cơ sở dữ liệu cho đo lường
Y của dự án : thời gian truy cập MIS
Kiểu dữ liệu : Liên tục (thời gian)
Tiêu chuẩn : 5 ~ 50 phút
Bước 2 Xem xét năng lực phân giải
Biến thiên quá trình : Max (43 min) – Min (7 min) = 36 min
Đơn vị đo nhỏ nhất : 1 phút
Năng lực phân biệt : 1/36
→ Từ năng lực phân biệt tốt hơn 1/10 của biến thiên quá trình, năng lực
phân biệt được đảm bảo.
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 19 Rev 7.0E
- Bước 3 Xem xét Accuracy
Xem xét accuracy của ‘thời gian truy cập MIS’ từ hệ thống máy tính, so sánh
với các giá trị đo bằng tay với sự đo lường tự động từ hệ thống máy tính
cho từng lần truy cập. (Filename : MSA_MIS.MTW)
Thời gian truy cập
được đo bằng hệ
thống máy tính
Thời gian truy cập
được đo bằng tay
(Giá trị thực)
Proprietary to Samsung Electronics Company Measurement System Analysis- 20 Rev 7.0E
nguon tai.lieu . vn