Xem mẫu
GV: Le Vu Tuan Hung HV: Huynh Xuan Nguyen VLĐT K20
introduction
STM được phát minh năm 1981 bởi Gerd Bingnig và Heinrich Rohrer.
AFM được phát minh năm 1986 Gerd Binnig, Calvin Quate và Christoph Gerber.
STM (Scanning Tunnelling Microscope) Đầu dò không chạm vào mẫu
Duy trì dòng điện tử xuyên hầm không đổi Độ phân giải rất cao (x, y: 0.1nm ;z: 0.01nm)
Hạn chế: vật liệu dẫn điện
AFM (Atomic Force Microscope) Đầu dò có thể chạm vào mẫu
Duy trì lực không đổi hoặc khoảng cách đầu dò – mẫu không đổi
Độ phân giải cao (x,y: 1nm; z: 0.1nm) Thích hợp cho tất cả các bề mặt
introduction
STM: độ phân giải cao nhưng giới hạn cho vật liệu dẫn điện. AFM: độ phân giải thấp hơn nhưng dùng cho tất cả các loại bề mặt.
Là một thiết bị quan sát cấu trúc vi mô bề mặt của vật rắn dựa trên nguyên tắc xác định lực tương tác nguyên tử giữa một đầu mũi dò nhọn với bề mặt của mẫu, có thể quan sát ở độ phân giải nanômet.
Hiện nay, AFM vẫn là loại phổ biến nhất của kính hiển vi đầu dò quét.
How AFM WORK
How AFM WORK
Đầu dò: là một bộ phận quan trọng ảnh hưởng đến độ phân giải của AFM.
...
- tailieumienphi.vn
nguon tai.lieu . vn